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3360 VLSI測試系統

更新时间:2017-11-14

简要描述:

3360 VLSI測試系統
主要特色:
•50 MHz 測試頻率
•608 個 I/O 通道
•8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
•彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
•平行測試可達 32 devices
•Real Parallel Trim/Match 功能

  免费咨询:0755-23217122

  发邮件给我们:xz01@junhuiyiqi.vip

3360 VLSI測試系統

主要特色:

  • 50 MHz 測試頻率
  • 608 個 I/O 通道
  • 8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
  • 平行測試可達 32 devices
  • Real Parallel Trim/Match 功能
  • 直接裝設 SC312, TS670 針測卡
  • 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K,TS670, ND1)
  • Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
  • SCAN test 選配 (512M)
  • ALPG test 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
  • 即時pattern編輯器,含Fail pin/address顯示
  • 多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display,Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.

 

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